Renishaw RLE system performance Data Sheets

  • このRenishaw RLEシステムのデータシートに関するご質問にお答えします。このドキュメントには、RLEシステムの構成要素、性能仕様、使用方法などが詳しく説明されています。高精度な位置決めや、真空環境での使用についても触れられていますので、お気軽にご質問ください。
  • RLEシステムの構成要素は?
    RLU10とRLU20の違いは?
    RLDディテクターヘッドの種類は?
    出力信号の種類は?
    分解能を拡張する方法は?
RLE シス
レニシーの RLE 光フバー式レーザーエコーダは干渉技
術を使用高分解能、且つ高精度の位置決めドバ
信号を提供すので高精度のモーシロール
ケーシに最適です。
RLE ズには、多様なケーの要件を満たせ
う、様々なレニッとデテクターヘッをごして
す。 ーシンにおけ柔軟性を最大限引き出すため
に、すべてのステム構成部品には互換性があ併用が可能
す。
RLEステムは、RLU レーザーユニ 1 台か 2 台の RLD
タードで成されます。
レーザー光源信号処理用の電子回路が内蔵されたRLUレーザ
ーユニは、レーザー光を RLD ーヘドに直接照射
るための光イバーブルを搭載 1 軸また 2 軸構
成となっていす。 RLU には、RLU10 および RLU20 という 2
の商品があ性能レベルに合わせて使い分けて頂がで
RLU20 ppb レベルのレーザー周波数安定性を備
真空や空調管理された環境でのケーンに最適
使するレーユニットによRLE テムの名称が変
RLE10 システムは RLU10 レーザーユニを組み込
んだもので、RLE20 ステムは RLU20 レーザーユニを組み
ものとなり
RLDーヘドは光学計測システムの核を成すもので、
光学干渉計部品、レニシー独自のマルチチネル干渉縞検出
機構ビームステグ機構が組み込まれています。 次に解
説する通現在、RLD には異な 3 種類の干渉計のプが
ます に、光学部品を内蔵ない RLD ご用意
り、RLE テムに適切な外部の光学部品を併用位置決
め、度、直度計測を行ができになっています
RLD10 ディファシャ ディテクタヘッ は、2 つの平
面鏡の相対位置を計測すので、1 つの平面鏡は参照用
て固定位置に配置(通常は加工ツールに配置)
主要プロセス構成部品間の正確な位置決めを行い2
のビーム間の共通モードのエラーを排除ができます。
RLD10 平面鏡ブル干渉計ーヘは、光学干
渉部品を内蔵RLD10 の内部に配置された参照用光学
部品ーゲ用光学部品て計測軸に配置れた平面鏡
の間の相対位置を計測ます
RLD10 反射鏡グルパ干渉計ーヘ 、光
干渉部品を搭載RLD10 の内部に配置された参照用光
学部品ーゲ用光学部品て計測軸に配置れた反射
鏡の間の相対位置を計測ます
ーシンにおけ柔軟性を最大限に引き出すため平面
鏡用反射鏡用の両干渉計デーヘドには また
90º レーザー出力方向のものをご用意ていす。
ーヘは上下の面でも付けが可能なため90º、も
くは 270º レーザー出力方向にて使用て頂ができ
す。
RLE のデジル矩形波出力分解能は、ンシルタ
平面鏡ブルパス干渉計で 10nm反射鏡グルパス
渉計で 20nmです。らに、RLE システムは1Vpp Sin / Cos 信号
を出力すができその信号周期はデンシ
面鏡干渉計で 158nm反射鏡干渉計で 316nm なっています
オプンとして、RGE インターポレーターま RPI20 ラレ
ンターフェースを RLE システから出力されるアナロ
力に接続使用すがでれにンシ
平面鏡ブルパス干渉計構成では 0.39nm / 38.6 ピコメー
ル、反射鏡グルパス干渉計構成では 0.79nm / 77.2 ピコメ
ルの出力分解能に拡張すがです。
真空アプケーシにはRCU10環境補正システムを使用
アルで屈折率補正物体温度補正を行ができ
ます。
のデシートには、 RLE テム構成の性能仕様情報
を記ています
L-9904-2491-04-A
ート
真空や空調管理れた環境でのン用のル干渉計ステム構成
位置決めン用反射鏡グルパRLE 干渉計シテム構成
X-Y駆動ン用平面鏡ブルパス)RLE 干渉計ステム構成
166.5 (6.55)
74 (2.91)
145 (5.71)
125 (4.93)
325 (12.81)
350 (13.78)
バの引
出口
固定穴
12 (0.47)
7 (0.28)
294 (11.57)
20 (0.79)
25 (0.98)
166.5 (6.55)
33.2 (1.31)
7.8
(0.31)
120 (4.72)
必要な
アラン
>100 (3.94)
RLU レーザーユニ
全体の寸法
さ: 74 (2.91)
さ: 350 (13.78)
幅: 166.5 (6.55)
表面が適度に平坦で、
振動がない限RLU
んな姿勢も固定す
とがきま
ブルイバーの最低曲
げ半径は25 mmす。
固定方法
M6 x 1.0 x 15mm または
1/4-20-UNC x 5/8 六角頭ネ 4
RLD10-X3-DI レンシ
ル干渉計
全体の寸法
さ: 51.5 (2.03)
さ: 110 (4.33)
幅: 50 (1.97)
RLD10
ーヘの全体の寸法
さ: 31.5 (1.24)
さ: 98 (3.86)
幅: 50 (1.97)
固定方法
M3 x 0.5 x 35mm また 5-40-UNC x
13/8 六角頭ネジ 4 本( 38mm
2
ッチ
柔軟性を最大限引き出す事がで
に、RLD10 ーヘドは上下
どちら取り付 きるうに
ってり、90º、お 270º のレ
ーザー出力方向にて使用
きま
30 (1.18) min
50 (1.97)
110 (4.33)
157 (6.19)
51.5 (2.03)
76 (2.99)
7 (0.28)
40 (1.57)
18.5 (0.73)
14 (0.55)
20 (0.79)
79.6 (3.13)
レーザー光線
Ø3 (0.12)
7 (0.28)
13.5
(0.53)
31.5 (1.24)
19 (0.75)
50 (1.97)
27
(1.06)
13.5
(0.53)
ケーブ
ファイ
ップリング
レーザービームンジケー
レーザービーム
38 ±0.2 (1.5±0.008)
38 ±0.2 (1.5±0.008)
固定ネジ4
98 (3.86)
形と寸
寸法単位 mmイン
RLD10 テクターヘッター
光学部品平面鏡か反射鏡のい
ずれかを使用すでき 寸法
固定に必要な事項は、すべての光学部
品構成すべレーザー出力方向の構
成に対共通です
レーザー光線
Ø3 (0.12)
キー
ック
固定ネジ
インクメン - RS422 ジタル
形波
RLU 出力信号
RS422 デジ
ル矩形波
A
B
A
B
Z
信号周期
分解能
レンマーク信*
アナログインクリメンタ - 1Vpp Sin Cos
レンシャル
アライメン調 RLD10 0°
および 90°
RLD10 ディテクターヘッアライメン調する
ームステアラが内蔵されています 固定面内での角度調整ー)
を行場合は、固定ネジを緩めーヘを回転
す。 固定面の外での角度調整を行には、可能な
キーで蔵ビームステアラを回ます
注: 以 下 に は の光線出力モデルのみを示いますが、の取
付け調整手順は、および 90° の両レーザー出
力方向のデーヘドについ共通ています
1 Vpp
2.5V DC ット
レンマーク信*
Cos
135°
-45°
Sin
3.5 V
2.5 V
90°
* 追加センサーによンスマーク信号が得られます。
RLD10-X3-DI ル干渉計の取
付け
RLD10-X3-DI ーヘドは、付け面に配置された 3
つのピーヘに付属)に直接取付けに設計
されています。 この 取り付 り、取り付とディ
ド間の膨張の差に適応すがでます ユーザーには
置にピン用の 3 つの M4 ネジ穴を開け、空アケーシ
用には、レーザー用の反射防止性を有す光学レードの
を取付けていただ必要があます 他の取付け方法につ
いては、レニシーにお問い合わせださい。
ン(
ショ
供)
M3 ネジニシーで
提供)
取り付
RLD10-X3-DI ッド
アライメン調 RLD10-X3-
DI ディシャ
RLD10-X3-DI ーヘドには 4 つの内蔵ビームステ
組み込まれて測定レーザーおよび参照レーザーに対
て個にピーの調整を行ができます。
RLD10 X3 DI
参照レーザーのヨー
調整
参照レーザーのピ
ッチ調
計測レーザーのピ
ッチ調
計測レーザーのヨー
調整
レーザー光の安全性の規格につい
IEC/EN60825-1IEC/EN60825-2
び米国規格
21CFR1040
ANSI
Z136.1に基づきRenishaw RLEレーザーは、スIIレーザーに分類さ
ますまばたきによ目を保護できるため保護ガネの着用は
必須ではあせん。
ただレーザービームを直接見つめたビームが
入らいようにしてく
散乱したビームを見ても、
全上問題あせん。
また、スIIの限界を超えーザー光を浴びる
能性があるため、いかなる方法でも、置を分解しないださい。
システ
レーザー
出力ビーム強度
HeNe クラ II
< 300µW (cw) /
予加熱中、れが 600µW で上昇す
ありま
NTP 波長 (温度= 20ºC圧力=
1013.25mB湿度= 50%
632.818270nm
632.819719nm
Axis 1
Axis 2
真空波長確度
±0.1ppm
(3)
レーザー周波数安定度
(RLU10 / RLU20)
±10ppb / ±1ppb
±50ppb / ±2ppb
±50ppb / ±20ppb
1
1 時間
8 時間
出力更新速度 0.31250.6251.252.551020MHz の更新速度からユーザーが選択可能
出 力 ー マ ット デュア RS422 レンシャルデジタル
矩形波
1Vpp Sin / Cos
ユーザーが分解能を選択可能(下記参照
電源容量
24V ±2V @ 2.5A
24V ±2V @ 1.6A
24V ±2V @ 0.6A
流入時(最初の 10ms
時( 10 分間)
室温 20ºC での作動時
推奨動作圧
推奨動作湿度
推奨動作温度
650 1150 バール
0% 95% RH
10ºC 40ºC
標準大気
結露な
(ディファシャ 15ºC 30ºC)
レーザービーム径
3mm
拡散 < 0.25mrad
ーブル長(標準)
3m
ーザーユニッ(およびレンシャルシ
ディテクターヘッら取り外し可
ーブル径
6.5mm
一方を通常の15 ピン D サブコネクタ、う一
を高密度 15 ピン D ブコネクで終端
バー(外皮)
5mm
干渉計ヘドかコネ直径は
12mm
ーブルバの曲げ半径 25mm(静的)
50mm(動的)
ディファシャル 平面鏡テム 反射鏡テム
グ出力信号周期
158nm 316nm
デジタル矩形波公称出力分解能 102039.579158316nm 2039.579158316633nm
REE インタポレイター使 用して
られる分
0.39nm 0.79nm
RPI20 パランターフェースを使
して得られる分解
38.6pm 77.2pm
最大追従速度
< 1m/s < 2m/s
リニアリティエー (SDE)*
*インターフース発生分を除
最大速度の 5% 未満、信号強度 >70%*
最大速度、信号強度 >50%
< ±1nm
< ±6 nm
< ±2.5nm
< ±7.5nm
< ±5nm
< ±13nm
移動軸 測定レーザー
Axis trave 参照レーザー
0 - 1m
0 - 0.5m
0 - 1m 0 - 4m
によるドリフ
< 50nm/ºC < 100nm/ºC
ビーム間隔(中心から中心)
7mm x 14mm 7mm
ビームの位置調整 ±1º ピッチ / ±1º ヨー ±0.65º ピッチ / ±1.5º ヨー
アライメン調 平面鏡1m の軸) ±25 arc
(公差は動作中にーの両方に適用)
反射鏡 ±0.25mm
重量 2.8kg (RLU10 RLU20)
400g (RLD10-X3-DI ッド の み )
690g (ディテクターヘッドとケ
ーブ)
2.8kg (RLU10 RLU20)
250g (RLD10 ディテクタ
ッド )
2.8kg (RLU10 RLU20)
250 g (RLD10 ディテクタ )
12g (反射鏡)
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ー株式会社
160-0004
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www.renishaw.jp
レニーではお
題を対応す
に画期的な解決策
たしま
レニシーは世界的な計測技術の
プ企業で測定技術につ
いて効果の高い経済的な解決策
生産性の向上をご提供てい
す。 子会社販売代理店の世界的
トワークを用しさま
に格段のサービスサポー
提供させていただきます。
レニシーでは ISO 9001 規格に
適合す製品を設計、開発、
に製造を行っておます
レニーは以下に掲げる品の
販売を通画期的な解決策
たしま
CMM (三次元測定機) プロー
システ
工作機械の作業設定、工具設
およびステ
スキニングシステム、デジ
ジングシステム、ンタルシ
ステム
機械の高精度測定おび校正用
レーザーシステムなびにボー
バーシステム
高精度位置決めドバ
エンコーダシステム
研究室おプロス環境下に
おけ材料非破壊分析用分光シ
ステム
タイラスセッティ
プローブ
貴アプケーシンに適な
殊仕様品の製作
世界のー代理店
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