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政府機関による認定
QLogic SANblade HBA
以降の項では、放射妨害波、放射免疫、および製品安全の各基準に準拠するため、QLogic SANblade HBA に対して実施さ
れた
EMC/EMI テスト仕様の要約を示します。
EMI および EMC 要件
FCC パート 15 準拠： クラス A（QLE200、QME2462、QME2472）、クラス B（QLA234x）
FCC 準拠情報ステートメント : この装置は、FCC 規則のパート 15 に準拠しています。その動作は、次の 2 つの条件に従
います。（
1） この装置は、有害な障害を引き起こすことはありません。（2） この装置は、望ましくない動作を引き起こす
可能性のある障害を含め、あらゆる受信障害の影響を受けます。
ICES-003 準拠： クラス A（QLE200、QME2462、QME2472）、クラス BQLA234x）
❑ QLE200、QME2462、および QME2472 HBA: このクラス A デジタル装置は、カナダ ICES-003 に準拠していま
す。
Cet appareil numériqué de la classe A est conformé à la norme NMB-003 du Canada.
❑ QLA234x HBA: このクラス B デジタル装置は、カナダ ICES-003 に準拠しています。
Cet appareil numériqué de la classe B est conformé à la norme NMB-003 du Canada.
CE マーク 2004/108/EC EMC 指令準拠 :
EN55022:1998/CISPR22:1997 - クラス A（QLE200、QME2462、QME2472）、クラス B（QLA234x）
EN55024:1998
イミュニティ規格
EN61000-4-2: ESD
EN61000-4-3:
放射無線周波電磁界
EN61000-4-4: 電気的ファーストトランジェント / バースト
EN61000-4-5: 雷サージの電力線・信号線および通信線への進入
EN61000-4-6: 無線周波電磁界によって誘導される伝導性妨害
EN61000-4-8: 電源周波数磁界
EN61000-4-11: 電圧低下、一時的遮断および電圧変動
EN61000-3-2：高調波電流
EN61000-3-3：電圧フリッカ
VCCI 準拠： クラス A（QLE200、QME2462、QME2472）、クラス B（QLA234x、QLE246x）
AS/NZS CISPR22 準拠： クラス A（QLE220、QME2462、QME2472）、クラス B（QLA234x、QLE246x）
CNS 13438 準拠： クラス B（QLA234x）
Caution—Class 1 laser radiation when open
Do not view directly with optical instruments
Attention—Radiation laser de classe 1
Ne pas regarder directement avec des instruments optiques
Vorsicht—Laserstrahlung der Klasse 1 bei geöffneter Abdeckung
Direktes Ansehen mit optischen Instrumenten vermeiden
Varoitus—Luokan 1 lasersateilya, kun laite on auki
Älä katso suoraan laitteeseen käyttämällä optisia instrumentteja
警告
— 開くとクラス 1 レーザーが放射されます。
光学機器を直接見ないでください。
クラス I レーザー製品
Class 1 Laser Product
Appareil laser de classe 1
Produkt der Laser Klasse 1
Luokan 1 Laserlaite
クラス
1 レーザー製品
